應(yīng)用領(lǐng)域

01.熱電材料開(kāi)發(fā)與性能優(yōu)化

     測(cè)量半導(dǎo)體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率，計(jì)算ZT值（熱電優(yōu)值）

     評(píng)估材料在高溫（如1500℃）或極端環(huán)境（真空/還原氣氛）下的熱電轉(zhuǎn)換效率

02.能源材料與器件研究

     鋰離子電池電極材料、固態(tài)電解質(zhì)的電阻率與界面接觸特性分析

     燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導(dǎo)電性能測(cè)試

03.電子與功能材料表征

     半導(dǎo)體薄膜、導(dǎo)電高分子、金屬氧化物的電輸運(yùn)特性研究

     高溫超導(dǎo)材料、陶瓷基復(fù)合材料的電阻-溫度關(guān)系曲線測(cè)定

04.工業(yè)材料質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化

     合金、陶瓷、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測(cè)，指導(dǎo)燒結(jié)工藝參數(shù)調(diào)整

     高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況（如真空、惰性氣氛）下的電學(xué)行為評(píng)估

05.科研與標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試

     高校及科研院所用于熱電效應(yīng)、導(dǎo)電機(jī)制等基礎(chǔ)理論研究

     依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（如ASTM E1225）開(kāi)展材料熱電性能認(rèn)證測(cè)試

測(cè)試軟件

經(jīng)過(guò)專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)與應(yīng)用工程師的聯(lián)合攻關(guān)，華測(cè)儀器研發(fā)出新一代智能測(cè)量軟件。該軟件深度集成計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，適配Windows 10/11操作系統(tǒng)，可自動(dòng)完成信號(hào)激勵(lì)、數(shù)據(jù)采集、實(shí)時(shí)處理及結(jié)果輸出全流程，并通過(guò)可視化界面直觀呈現(xiàn)測(cè)試成果，顯著提升了操作便捷性與測(cè)試效率。

特點(diǎn)

01.文本編輯

02.重復(fù)測(cè)量可少的輸入?yún)?shù)

03.實(shí)時(shí)測(cè)量分析

04.測(cè)量曲線比較：多達(dá)32條曲線

05.曲線扣除

06.曲線放大縮小

07.一階/二階求導(dǎo)

08.多重峰分析

09.樣品溫度多點(diǎn)校正

10.多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）

11.焓變多點(diǎn)校正

12.熱流Cp測(cè)量

13.評(píng)估結(jié)果保存及導(dǎo)出

14.ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出

15.數(shù)據(jù)生成到MS Excel

16.信號(hào)控制測(cè)量測(cè)序

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

01.寬溫區(qū)覆蓋與高適應(yīng)性

  支持 RT 至 1500℃℃ 超寬溫度范圍,兼容低溫至超高溫測(cè)試,滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求

  提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境,適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評(píng)估

02.高精度與多功能集成

  塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍 1~2500uV/K,準(zhǔn)確度達(dá) 士7%,重復(fù)性 士3%,精準(zhǔn)捕捉微弱熱電效應(yīng)

  電導(dǎo)率測(cè)量范圍覆蓋 0.01~2x105S/cm,準(zhǔn)確度士5~8%,支持從絕緣體到導(dǎo)體的全品類(lèi)材料電阻率分析

  采用靜態(tài)直流法(塞貝克系數(shù))與四端法(電阻率),確保測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠

03.靈活兼容性與操作便捷性

  支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤(pán)狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸,適配復(fù)雜形狀試樣

  可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結(jié)構(gòu),保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測(cè)量誤差

  電極材料可選鎳(-100~500°C) 或鉑(-100~1500°C),靈活應(yīng)對(duì)不同溫區(qū)與材料特性

04.高穩(wěn)定性與長(zhǎng)周期測(cè)試能力

  電源輸出 0~1A,具備長(zhǎng)期穩(wěn)定性,支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)采集

  配備K/S/C型熱電偶，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制

技術(shù)指標(biāo)

01.溫度范圍：RT ～ 800/1100/1500℃

03.氣氛：惰性、氧化、還原、真空

04.樣品支架：三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間

05.樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2至5 mm（面寬），23mm，φ6mm，23mm

06.樣品尺寸（圓盤(pán)狀）：10、 12.7、 25.4 mm

07.可調(diào)探頭距離：4、 6、 8 mm

08.塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍：1 ～ 2500μV/K準(zhǔn)確度±7%；重復(fù)性±3%

09.電導(dǎo)率測(cè)量范圍：0.01 ～ 2*10^5s/cm準(zhǔn)確度±5-8%；再現(xiàn)性±3%

10.電源：0 ～ 1A，具長(zhǎng)期穩(wěn)定性

11.電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）

12.熱電偶：K/S/C型