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    產(chǎn)品詳情
    • 產(chǎn)品名稱:高溫四探針 測(cè)試儀

    • 產(chǎn)品型號(hào):HCTZ-800
    • 產(chǎn)品廠商:華測(cè)
    • 產(chǎn)品價(jià)格:0
    • 折扣價(jià)格:0
    • 產(chǎn)品文檔:
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    簡單介紹:
    HCTZ-300 型四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn),專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。 儀器采用了新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
    詳情介紹:


    高低溫四探針測(cè)試系統(tǒng)



    一、高溫四探針儀器簡介:

        HCTZ-300 型四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。

       儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。

    儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。

      本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。





    儀器優(yōu)點(diǎn);

    偏差1/60,抗干擾性能提高300


    16mm 大口徑三軸連接器 電流輸入端口采用大口徑三軸連接器,是將內(nèi)部屏蔽連接至 GUARD(COM) 線,外部屏蔽連接至 GROUND 3 層同軸設(shè)計(jì)。 兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的**性。


     HC浮動(dòng)電路與三軸連接器組合使用可有效增強(qiáng)對(duì)電源干擾或外來干擾的穩(wěn)定性(重復(fù)精度)大幅提升。普通的使用環(huán)境的偏差為0.007%(代表值)與以往機(jī)型相比減少至1/60,在摻雜50V突發(fā)干擾的條件下減少至1/300。



    技術(shù)參數(shù)如下:

    測(cè)量范圍

    電阻率:10-5105 ?.cm(可擴(kuò)展);

    方塊電阻:10-4106 ?/(可擴(kuò)展);

    電導(dǎo)率:10-5105 s/cm;

    電阻:10-5105 ?;

    可測(cè)晶片直徑

    140mmX150mm( S-2A 型測(cè)試臺(tái));

    200mmX200mm( S-2B 型測(cè)試臺(tái));

    400mmX500mm( S-2C 型測(cè)試臺(tái))

    恒流源

    電流量程分為 1μA、10μA100μA、1mA10mA、100mA 六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)

    數(shù)字電壓表

     

    量程及表示形式 000.00199.99 mV;

    分辨率:10μV

    輸入阻抗>1000M?;

    精度:±0.1% ;

    顯示:液晶屏;極性、超量程自動(dòng)顯示;

    四探針探頭基本指標(biāo)

    間距:1±0.01mm;

    針間絕緣電阻:≥1000M?;

    機(jī)械游移率:≤0.3%;

    探針:碳化鎢或高速鋼 Ф0.5mm;

    探針壓力:516 牛頓(總力)

    四探針探頭應(yīng)用參數(shù)

    (見探頭附帶的合格證)

    模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差

    ( JJG508-87 進(jìn)行)

     

    0.01?、0.1?、1?、10?、100?、1000?、10000?≤0.3%±1

    整機(jī)測(cè)量*大相對(duì)誤差

    (用硅標(biāo)樣片:0.01-180?.cm 測(cè)試) ≤±5

    整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度

    3

    測(cè)試模式

    可連接電腦測(cè)試也可不連接電腦測(cè)試。

    軟件功能(選配)

    軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計(jì)分析測(cè)試數(shù)據(jù)*大值、 *小值、平均值、*大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,也可把測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動(dòng)測(cè)量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測(cè)試

    計(jì)算機(jī)通訊接口

    并口,高速并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要 1.5

    秒(在 10uA,0.1mA、1mA、10mA、100mA 量程檔時(shí))。

    標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

    溫度:23±2℃;

    相對(duì)濕度:≤65%;

    無高頻干擾;

    無強(qiáng)光直射;




      二、HCTZ-300 型四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)

    HCTZ-300 型四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過此測(cè)試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。

    測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。






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