一、電容器絕緣退化的評(píng)估方式

• 通過(guò)檢測(cè)絕緣電阻/漏電流檢測(cè)：直流加壓測(cè)量泄漏電流，阻值↓50%或超規(guī)格書(shū)限值即為退化判據(jù)；
• 電容值檢測(cè)：LCR表@指向頻率，偏差超±10%~20%（依類型而定）為退化判據(jù)；
• 損耗角正切(tanδ)檢測(cè)：1kHz~100kHz頻率掃描，較初始值↑50%或超額定上限為退化判據(jù)；
• 等效串聯(lián)電阻(ESR)檢測(cè)：100kHz交流阻抗測(cè)量，較初始值↑100%為退化判據(jù)；
• 擊穿電壓檢測(cè)：階梯升壓至擊穿（破壞性測(cè)試），低于額定電壓的80%為退化判據(jù)。

• 外觀檢查：鼓包（電解電容）、開(kāi)裂（陶瓷電容）、漏液；
• 熱成像：異常熱點(diǎn)（ESR增加導(dǎo)致局部過(guò)熱）；
• 聲學(xué)檢測(cè)：高頻嘯叫（濾波失效引發(fā)開(kāi)關(guān)噪聲）。

• 高溫高濕試驗(yàn)：85℃/85%RH下持續(xù)加壓，評(píng)估濕熱協(xié)同效應(yīng)；
• 電壓加速試驗(yàn)：1.5倍額定電壓下測(cè)試參數(shù)漂移速率；
• 溫度循環(huán)：-40℃~125℃循環(huán)沖擊，檢驗(yàn)機(jī)械應(yīng)力耐受性。

• 在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)：實(shí)時(shí)采集電容器的電壓、電流、溫度，通過(guò)AI算法預(yù)警早期退化；
• 阻抗譜分析(EIS)：掃描寬頻阻抗特性，識(shí)別微觀結(jié)構(gòu)變化。

二、測(cè)量設(shè)備

電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)通過(guò)準(zhǔn)確控制溫度環(huán)境，并測(cè)量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評(píng)估其溫度特性。華測(cè)儀器電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)具有高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的特點(diǎn)，能夠適用于各種類型的電容器，包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等。